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常見lcr測試儀品牌型號測試頻率及精度對比

發(fā)布時間:2016年04月22日[儀器儀表][是德科技 安捷倫Agilent][固緯GWINSTEK][同惠Tonghui]

LCR測試儀用于測量各種無源阻抗參量如電感、電容、電阻、阻抗,其測試速度快、讀數(shù)方便,且功能多、頻率范圍寬、測量范圍大,具有穩(wěn)定性和準確度較高、易于實現(xiàn)程控等眾多優(yōu)點,己廣泛應用于計量測試、科研單位測量各類電子元器件的阻抗特性和篩選、元器件生產(chǎn)及維修制作等領域。

lcr測試儀

以下是深圳市格信達科技整理的常見lcr測試儀品牌型號對比,包括高精度臺式lcr電橋測試儀手持式lcr數(shù)字電橋,比較參數(shù)包括測試頻率及基本精度,為客戶測量電感和電容提供直觀的測試儀選型參考。

 

lcr數(shù)字電橋測試頻率及精度規(guī)格參數(shù)對比表

品牌 型號 測試頻率 基本精度 接口
 是德科技  安捷倫電橋表 E4980A精密lcr測試儀 20Hz~2MHz 0.05% LAN、USB和GPIB
4285A 75 kHz~30 MHz 0.1% LAN、USB和GPIB
E4982A  1 MHz~300 MHz/500M/1G/3G Hz 0.8% LAN、USB和GPIB
E4981A 電容計 C-D高速測量2.3 ms(1 MHz) 0.07% LAN、USB和GPIB
U1733C手持式電橋表 100Hz~100kHz 0.2% -
U1732C手持lcr測試儀 100Hz~10kHz 0.2% -
U1731C手持電橋表 100Hz~1kHz 0.2% -
U1701B手持電容表 0.1pF~199.99mF - -
Gwinstek固緯lcr測試儀 LCR-8110G電橋測試儀 20Hz~10MHz, 幅頻特性曲線圖表 0.1% RS232 / GPIB
LCR-8105G 20Hz~5MHz, 幅頻特性曲線圖表 0.1% RS232 / GPIB
LCR-8101G 20Hz~1MHz, 幅頻特性曲線圖表 0.1% RS232 / GPIB
LCR-829 12Hz~100kHz, 503點 0.1% 100組設定儲存,標配Handler 
LCR-827 12Hz~10kHz, 489點 0.1% 100組儲存,標配Handler 接口
LCR-826 100Hz~2kHz, 245點 0.1% 100組設定儲存,標配Handler口
LCR-821 12Hz~200kHz, 504點 0.05% 100組設定儲存,標配RS-232接口
LCR-819電橋測試儀 12Hz~100kHz, 503點 0.05% 選配RS-232接口
LCR-817 12Hz~10kHz, 489點 0.05% 選配RS-232接口
LCR-816 100Hz~2kHz, 245點 0.1% 選配RS-232接口
LCR-916手持式電橋表 100Hz~100kHz 0.2% -
LCR-915手持電橋表 100Hz~10kHz 0.2% -
同惠電橋 TH2827C高頻電橋測試儀 20Hz~1MHz 0.01% RS232C、USB 、LAN、GPIB
TH2827B 20Hz~500kHz 0.01% RS232C、USB 、LAN、GPIB
TH2827A 20Hz~300kHz 0.01% RS232C、USB 、LAN、GPIB
TH2826 20Hz~5MHz 0.1% USB,LAN,RS-232C
TH2828A 50Hz~1MHz,44個頻點 0.1% RS-232C
TH2828 20Hz~1MHz, 6000個測試頻率點 0.05% RS232C,USB
TH2818 20Hz~300 kHz 0.05% RS232C
TH2819A 20Hz~200kHz 0.05% RS-232C
TH2816B 50Hz~200kHz, 37個典型測試頻率 0.1% RS-232C
TH2816A 50Hz~200kHz, 1.2萬個測試頻點 0.05% RS-232C,GPIB(選件)
TH2825A 50Hz~100kHz, 共10點 0.1% RS-232C
TH2817B數(shù)字電橋 50Hz~100kHz 0.1% RS-232C
TH2817 100Hz~100kHz 0.05% RS232C,Handler,Printer
TH2822C電橋表 100Hz~100kHz 0.25% -
TH2822A手持式lcr表 100Hz~10kHz 0.25% -
TH2822手持電橋表 100Hz~1kHz 0.25% -

lcr數(shù)字電橋

 

LCR測試儀測量步驟

設置測試頻率,測試電壓或者電流水平

選擇測試參數(shù),比如Z、Q值、LS、LP(并聯(lián)電感)、CS(串聯(lián)電容)、CP、D等

儀器校準,校準主要進行開路、短路校準,高檔的儀器要進行負載校準

選擇測試夾具,夾具補償

將元器件放在夾具上開始測試

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