利用紅外熱像儀進行LED溫度檢測

LED發(fā)光二極管的實際壽命與工作溫度往往成反比，如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時、63℃為25000小時，小于50℃時，則可為50000小時。LED的光電轉換效率大約只有15%至20%左右，其余均轉換成為熱能。因此，當大量使用高功率的LED于一塊模組，應用于高亮度的操作時，這些極差的轉換效率將造成散熱處理的大問題。使用紅外熱像儀不僅在研發(fā)過程中能夠發(fā)揮作用，而且也可以應用在產品的品質管理等方面。

手持紅外熱像儀在LED行業(yè)的應用點

一、熱像儀在研發(fā)階段的應用

主要是對LED模塊驅動電路（包括電源）、光源半導體發(fā)熱分布分析、及光衰測試等。

a）LED模塊驅動電路

在LED產品研發(fā)中，需要工程師進行一部分驅動電路設計，例如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現電路上溫度異常之處，便于完善電路設計。

b）LED光源半導體芯片發(fā)熱

利用熱像儀，工程師可以通過光源半導體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎，達到提高LED產品壽命的目的。

c）光衰試驗

LED產品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現階段全球的LED大廠們做出的LED產品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決定的。目前，市場上的白光LED其光衰可能是向民用照明進軍的首要問題之一。

二、利用紅外熱像儀進行品質管理

a）半導體照明：吹制燈泡均勻性

通過熱像儀抓拍產線玻璃吹泡的過程，進行參數修正，改善掐口工藝，可以有效提高產品成品率，降低成本。

b）LED檢測芯片封裝前的溫度

LED芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好的幫助客戶發(fā)現此處的問題，作為流水線檢測工具。

c）LED成品顯示屏開機測試

LED顯示屏完成后，要做最后驗收，通過不同顏色的測試來看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數企業(yè)都沒有這個流程。使用熱像儀后，能夠為廠家完善產品檢測標準，提高產品質量。

紅外熱成像儀能夠發(fā)揮獨特作用

通過紅外線熱像儀檢測目標時，不需要斷電，操作方便，同時非接觸測量使原有的溫度場不受干擾，而且反應速度較快 ，小于1毫秒。除了可以拍攝紅外溫度熱圖像外，還可以同時捕獲一幅可見光照片并傳輸到電腦終端，有助于第一時間識別和定位故障。推薦的主要熱像儀品牌包括美國Flir菲利爾紅外熱像儀及（建議型號flir i5/ flir 17/ flir e6熱像儀）福祿克Fluke紅外熱成像儀。