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德國(guó)尼克斯QuaNix測(cè)厚儀QNix8500涂層測(cè)厚儀

QNix8500涂鍍層測(cè)厚儀是一種智能化的涂層測(cè)厚儀，探頭可直接與主機(jī)連接，進(jìn)行一體化測(cè)量，也可通過(guò)探頭電纜線來(lái)與主機(jī)連接，進(jìn)行分體測(cè)量，最高顯示精度達(dá)0.01μm。

鍍層/涂層測(cè)厚儀品牌：尼克斯QuaNix
尼克斯QuaNix

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  • 尼克斯QuaNix測(cè)厚儀QNix8500
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QNix8500圖片

  • QNix8500
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尼克斯QuaNix QNix8500 鍍層/涂層測(cè)厚儀規(guī)格參數(shù)與圖片

德國(guó)尼克斯QuaNix QNix8500涂鍍層測(cè)厚儀一體分體通用，帶菜單操作，是一種智能化的涂層測(cè)厚儀?？赏ㄟ^(guò)更換探頭來(lái)滿足不同的測(cè)量需求，可存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，并且可與計(jì)算機(jī)進(jìn)行無(wú)線傳輸。探頭可直接與主機(jī)連接，進(jìn)行一體化測(cè)量，也可通過(guò)探頭電纜線來(lái)與主機(jī)連接，進(jìn)行分體測(cè)量。分體測(cè)量操作簡(jiǎn)單，可很大程度上避免誤操作產(chǎn)生的誤差。該儀器主機(jī)通用，探頭分為磁性探頭、渦流探頭及雙用探頭，探頭的測(cè)量范圍有0-2mm和0-5mm兩種。

 

QNix8500涂層測(cè)厚儀選配探頭

Fe鐵基普通探頭/無(wú)線探頭：    0－2000μm/0－5000μm

NFe非鐵基普通探頭/無(wú)線探頭： 0－2000μm/0－5000μm

NFe/Fe兩用普通探頭/無(wú)線探頭：0－2000μm/0－5000μm

薄鍍層探頭MIFE 500精確測(cè)量極薄的鍍層，范圍：0-500μm

Dangle（無(wú)線模塊）、探頭電纜線、計(jì)算機(jī)軟件

 

德國(guó)尼克斯quanix QNix8500涂鍍層測(cè)厚儀規(guī)格參數(shù)

  QNix4200 QNix4500測(cè)厚儀 1200 1500 7500 keyless QNix8500測(cè)厚儀
基體 Fe Fe/NFe Fe Fe/NFe Fe/NFe Fe/NFe Fe/NFe
探頭形式 一體 一體、分體 無(wú)線分體 一體、分體
無(wú)線分體
測(cè)量范圍 0－3000μm Fe:0-3000μm 
NFe：0－3000μm		 0－2000μm 0－5000μm 0－2000μm 
0－5000μm		 0－5000μm 0－2000μm
0－5000μm
測(cè)量精度 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
顯示精度 0.1μm 0－999μm：0.1μm，1000μm以上， 0.01mm 光滑表面0.01μm
工作溫度 －10 － ＋60℃
溫度補(bǔ)償 0－ 60℃
存 儲(chǔ) － 1500M 型 7500M 型 keylessM型 可存儲(chǔ)
　 3900個(gè)測(cè)量值，999個(gè)數(shù)據(jù)組 1個(gè)數(shù)據(jù)組，
100個(gè)讀數(shù)
數(shù)據(jù)傳輸 － RS232打印、電腦 與電腦無(wú)線傳輸
統(tǒng)計(jì)功能 － 平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差
超限報(bào)警 － 上下限
最小基體 10mm × 10mm
最小曲率 凸、凹半徑：3mm/25mm 凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
最薄基體 Fe： 0.2mm ，NFe： 0.05mm
電 源 5號(hào)電池2節(jié) 9V堿性電池1節(jié) 5號(hào)電池2節(jié)
重 量 110g 130g 150g 130g 120g
尺 寸 110×60× 27mm 166×64× 34mm 110×60×24mm 110×62× 22mm 124×67× 33mm

 

尼克斯QNix8500涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)

零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。

無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。

溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。

紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。

獨(dú)特的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無(wú)可比擬的優(yōu)越和提高。

單探頭量程大：0－5mm。

尼克斯QuaNix測(cè)厚儀