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日置HIOKI IM3533 LCR測試儀1mHz~200KHz電容電感阻抗高速高精度測量

日本HIOKI IM3533 LCR METER是一款極具性價比的高端測試儀,測量頻率1mHz-200kHz,精度±0.05%,內(nèi)置低阻抗高精度模式可有效測量電容的C值、電感(線圈·變壓器)的DCR和L-Q以及土壤的腐蝕性評估、智能鎖防盜碼的天線阻抗測量,IM3533-01能測量L,C復(fù)合零件等各種被測物的頻率特性,2ms的快速測試時間。

LCR測試儀/電橋表品牌:日置HIOKI
日置HIOKI

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IM3533圖片

  • IM3533
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日置HIOKI IM3533 LCR測試儀/電橋表規(guī)格參數(shù)與圖片

日本日置LCR測試儀IM3533、IM3533-01基本精度達(dá)到±0.05%,大范圍的測量頻率1mHz~200kHz,最快2ms高速測量,通過斷線檢查功能提高了測量、匝數(shù)比&互阻抗測量等的可信度,相比以往產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了高性能多功能,是一款極具性價比的高端測試儀,覆蓋從產(chǎn)線到研發(fā)領(lǐng)域。

 

 HIOKI IM3533 LCR測試儀特點(diǎn)

基本精度±0.05%,測量范圍廣,DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA

在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,不間斷測試,速度是以往產(chǎn)品的10倍

內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻

日置IM3533測試儀通過變壓器測量專用界面,能夠測量匝數(shù)比N,漏感M,電感差ΔL和溫度補(bǔ)償DCR

IM3533-01能根據(jù)指定的頻率范圍和頻率列表,改變最大801點(diǎn)的頻率后自動進(jìn)行測量

除標(biāo)準(zhǔn)0m/1m以外的2m/4m電纜設(shè)置,內(nèi)置比較器和BIN功能,2ms的快速測試時間

應(yīng)用舉例:測量電容的C-D和ESR,極性電容的C值,測量電感(線圈·變壓器)的DCR和L-Q,變壓器·卷線測量,土壤的腐蝕性評估,智能鎖·防盜碼的天線阻抗測量;IM3533-01能測量L,C復(fù)合零件等各種被測物的頻率特性。

可施加-5V~5V內(nèi)部DC偏壓進(jìn)行測量,如鉭電容等有機(jī)電容也能放心進(jìn)行測量

 

日置HIOKI IM3523/IM3533 LCR METER測試儀技術(shù)參數(shù)

型號 日置IM3523 LCR測試儀 IM3533 LCR測試儀 IM3533-01測試分析儀
測量模式 LCR模式:
單一條件測量

連續(xù)測量模式:
通過已保存的條件連續(xù)測量(2條)

用于電線零件、管腳元件和SMD元件
 
LCR模式:
單一條件測量

變壓器測量模式:
N匝數(shù)比, M漏感, ΔL電感差

連續(xù)測量模式:
通過保存的條件進(jìn)行連續(xù)測量
LCR模式(最多60條)
LCR模式:單一條件測量
變壓器測量模式:N,M,ΔL
連續(xù)測量模式:
通過已保存的條件進(jìn)行連續(xù)測量
LCR模式(最多60條)
分析模式(最多2條)
分析模式:用測量頻率掃描
(測量點(diǎn)2~801, 常規(guī)掃頻明細(xì)顯示)
測量參數(shù) Z阻抗[Ω]、Y導(dǎo)納[Ω]、θ相位角[°]、
Rs等效串聯(lián)電阻=ESR[Ω]、
Rp并聯(lián)等效電路的電阻[Ω]、DCR
X電抗[Ω]、G電導(dǎo)率[S]、B電納[S]、
Cs串聯(lián)等效電路的靜電容量[F]、
Cp并聯(lián)等效電路的靜電容量[F]、
Ls串聯(lián)等效電路的電感[H]、
Lp并聯(lián)等效電路的電感[H]、
D損失系數(shù)=tanδ、Q因素(Q=1/D)
Z, Y, θ, Rs(ESR), Rp, DCR(直流電阻),
X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tanδ), Q,
N匝數(shù)比, M漏感, ΔL電感差, T

應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域,
及電容電感,電氣化學(xué)
量 程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程, (所有參數(shù)通過Z規(guī)定),主機(jī)能保存32000組數(shù)據(jù)
顯示范圍 Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp±(0.000000[單位]~9.999999G[單位]),Z和Y為絕對值顯示
θ: ±(0.000°~999.999°)、D: ±(0.000000~9.999999)、Q: ±(0.00~99999.99)、Δ%: ±(0.0000%~999.9999%)
基本精度 Z: ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
測量頻率 40Hz~200kHz (1mHz~10Hz步進(jìn)) 1mHz~200kHz (1mHz~10Hz步進(jìn))
信號等級與阻抗 常規(guī)模式(輸出阻抗100Ω):
V模式·CV模式:
5 mV~5 Vrms, 1mV rms步進(jìn)
CC模式:
10 μA~50 mA rms,10μA rms步進(jìn)
常規(guī)模式(輸出阻抗100Ω):
V模式·CV模式:5mV~5Vrms, 1 mVrms步進(jìn)
CC模式:10μA~50mArms, 10μArmsCC步進(jìn)

低阻抗高精度模式(輸出阻抗25Ω):
V模式·CV模式:5mV~2.5Vrms, 1m Vrms步進(jìn)
CC模式:10μA~50mArms, 10μArms步進(jìn)
顯 示 單色LCD 彩色TFT5.7英寸,顯示可設(shè)置ON/OFF
測量時間與速度 2ms(100kHz,F(xiàn)AST,顯示OFF,代表值),速度模式FAST/MED/SLOW/SLOW2
DC偏壓 測量 - 常規(guī)模式:-5.00V~5.00V (10mV步進(jìn))
低阻抗高精度模式:-2.50V~2.50V (10mV步進(jìn))
BIN測量 主要參數(shù)10種,輔助參數(shù)1中,范圍外 2個項目10種,范圍外
外部接口 EXT I/O、USB(Hi-Speed)
選件:RS-232C/GP-IB/
LAN(10BASE-T/100BASE-TX)
可選擇安裝其中一種
EXT I/O、USB(Hi-Speed)、USB存儲
選件:RS-232C/GP-IB/LAN,可選擇安裝其中一種
尺寸及重量與標(biāo)準(zhǔn)配置 [IM3523] 約260W×88H×203D mm,約2.4 kg
[IM3533/IM3533-01] 約330W×119H×168D mm,約3.1 kg
標(biāo)配:主機(jī)、電源線、說明書、CD-R(通訊說明書,軟件)
需結(jié)合應(yīng)用單獨(dú)選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具

IM3523測試儀規(guī)格說明書http://oznappies.com/download/202002/HIOKI_IM3523_IM3533.pdf

 

HIOKI LCR電橋測試儀探頭治具與通訊接口選件訂貨信息

日置IM3533/IM3533-01:包含主機(jī)、電源線、使用說明書、CD-R(通訊說明書,樣品軟件)

測試治具、探頭不是標(biāo)配,請根據(jù)需要另外選購選件中的測試治具和探頭

[選件——外接通訊模塊]

Z3000 GP-IB接口,9151-02 GP-IB連接線;Z3001 RS-232C接口卡,Z3002 LAN接口

9268-10 DC偏置電壓單元 直連型,40Hz~8MHz,最大施加電壓±40V;9269-10型40Hz~2MHz,2A、±40V

[用于引腳部件測試——測試治具、探頭]

L2000 4端子探頭:頻率DC~8 MHz,可測量端子直徑0.3mm~5 mm

9261-10測試治具:頻率DC~8 MHz,可測量端子直徑0.3mm~1.5mm

9140-10 4端子探頭:主機(jī)直連型,DC~8 MHz,可測0.3mm~2 mm

[SMD測試治具]

IM9110:直連型,對應(yīng)0201尺寸,用于側(cè)面電極SMD,電極2端子結(jié)構(gòu)DC~1MHz

IM9100:對應(yīng)0402,0603,1005這3種尺寸,電極4端子結(jié)構(gòu)可進(jìn)行高精度測量,DC~8MHz

9677、9699、9263主機(jī)直連型SMD治具

L2001鑷形探頭:頻率8 MHz,前端部分接觸頭IM9901 、IM9902探針可更換

用于電氣化學(xué)分析4端子探頭9500-10,頻率DC~200kHz,可測量端子直徑0.3~2mm

 

日本日置LCR測試儀系列

IM3536:DC 4Hz~8MHz的通用LCR測試儀,用于電容、電感等電子元件,測試速度1ms

IM3533測試儀:DC 1mHz~200kHz,可進(jìn)行變壓器專用測量,IM3533-01裝有掃頻功能,速度2ms

IM3523:DC 40Hz~200kHz頻率,適用于自動設(shè)備組裝、生產(chǎn)線的高性價比產(chǎn)品,測試速度2ms

3511-50:120Hz、1kHz測試頻率,用于小型·單功能的LCR測試,鋁電解電容的生產(chǎn)線,5ms

3506-10 C測試儀:1kHz、1MHz頻率,用于低容量電容的C測試儀,MLCC、薄膜電容生產(chǎn),1.5ms

3504 C測試儀:120Hz、1kHz頻率,大容量MLCC的選機(jī)(3504-50/60)、貼片機(jī)(3504-40),2ms

IM7580A阻抗分析儀:1MHz~300MHz高頻率測量,用于鐵氧體磁珠、電感的生產(chǎn)線,高速0.5ms

IM3570阻抗分析儀:DC 4Hz~5MHz,1臺實(shí)現(xiàn)LCR測試和阻抗分析,壓電元件、高分子電容、功率電感

IM3590化學(xué)阻抗分析儀:DC 1mHz~200kHz,Cole-Cole圖、等效電路分析、LCR,電氣化學(xué)部件及材料/電池/EDLC雙電層電容的測量

日置HIOKILCR測試儀/電橋表