• 泰克tektronix示波器★示波器 泰克
  • 紅外熱成像儀價(jià)格★熱像儀
  • 泰克示波器探頭★泰克 探頭
  • 紅外測溫槍★紅外測溫儀 測溫槍
  • 安捷倫數(shù)據(jù)采集器★安捷倫 數(shù)據(jù)采集器

美國ILT2400紫外輻照計(jì)SED033/A/W探頭320-475nm紫外波長輻射照度計(jì)

美國International Light PCB印刷線路板曝光測量ILT2400輻照計(jì)與SED033/A/W探頭作用于320-475nm波長頻譜,帶有專門用于A波段的光刻膠過濾器及W擴(kuò)散器,可測定2e-7至2 W/cm2輻照度,測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報(bào)告。

紫外輻照計(jì)品牌:美國International Light
美國International Light

請撥打電話,或在線聯(lián)系我們,告訴我們你要什么
您將會(huì)得到省事省心的產(chǎn)品選型、價(jià)格報(bào)價(jià)服務(wù)!
  • 美國International Light輻照度計(jì)SED033-A-W
  • 美國International Light輻照度計(jì)SED033-A-W
  • 美國International Light輻照度計(jì)SED033-A-W
  • 美國International Light輻照度計(jì)SED033-A-W
  • 美國International Light輻照度計(jì)SED033-A-W

SED033-A-W圖片

  • SED033-A-W
  • SED033-A-W
  • SED033-A-W
  • SED033-A-W
  • SED033-A-W

美國International Light SED033-A-W 紫外輻照計(jì)規(guī)格參數(shù)與圖片

Photoresist光刻膠曝光的加工設(shè)備通常非常緊湊并且沒有足夠的空間來進(jìn)行輻照度測量。美國ILT公司致力于提供各種獨(dú)特的光刻膠專用儀器來實(shí)現(xiàn)這些困難的測量。International Light ILT2400輻照計(jì)具有采用可能換分離探頭設(shè)計(jì),具有8個(gè)量級的動(dòng)態(tài)測量范圍,測量速度可達(dá)100μs,內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達(dá)8小時(shí),4.3寸觸摸屏顯示,可橫向和縱向觀看,以手持價(jià)格研究質(zhì)量。SED033/A/W探頭帶有專為硅傳感器提供“A”波段響應(yīng)(320-475 nm)的光刻膠過濾器,以及W固體石英內(nèi)半球擴(kuò)散器,量程范圍2e-7 至2 W/cm²。

 

ILT測光表是易于使??用的高性能儀器,非常適合用作光度計(jì)photometers (勒克斯lux meters)、強(qiáng)度計(jì)intensity meters (坎德拉candela)、固化測量儀/輻照度計(jì)/光量計(jì)curing meters (劑量和曝光測量dose and exposure meters)、能量功率計(jì)power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)。可以訂購不同的光探測器探頭、濾光片、光測量輸入元件和波長校準(zhǔn)來獲得更精確的測量結(jié)果。

 

美國International Light PCB線路板曝光測量輻照計(jì)與探頭選型表

輻照計(jì)/探頭組合 響應(yīng)波長頻譜 測量范圍 類型及應(yīng)用
ILT5000, SED033/A/W 320-475 nm 2e-9 ~ 2 W/cm² 臺(tái)式,Photoresist光刻膠/光阻材料,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, SED033/A/W 320-475 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,Photoresist光刻膠/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT1000/A/W 320-475 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT1700, SED033/A/W 320-475 nm 7e-9 ~ 4 W/cm² 臺(tái)式,Photoresist光刻/光阻劑,同上
ILT2400, XSD140A 320-475 nm 4e-8 ~ 0.7 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, XSD340A 320-475 nm 8e-7 ~ 10 W/cm² 同上,大功率高強(qiáng)度輻照探頭
ILT5000, SED033/B/W 326-401 nm 3e-10 ~ 0.2 W/cm² 臺(tái)式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, SED033/B/W 326-401 nm 2e-8 ~ 0.2 W/cm² 手持式,同上
ILT1700, SED033/B/W 326-401 nm 5e-9 ~ 0.5 W/cm² 臺(tái)式,同上
ILT1000/B/W 326-401 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,同上
ILT2400, XSD140B 326-401 nm 7e-8 ~ 1 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, XSD340B 326-401 nm 2e-6 ~ 30 W/cm² 手持式,Photoresist光刻膠/光阻劑,高強(qiáng)度測量
ILT2400, SSD001 260-400 nm 6e-6 ~ 0.9 W/cm² 手持式,超薄傳感器,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源

 

International Light萬國光學(xué)濾片及輸入元件代碼解析

A光刻膠過濾器:定制濾波器設(shè)計(jì)用于提供硅傳感器的“A”響應(yīng)(320-475 nm)

B光阻過濾器:濾波器旨在提供硅探測器的“B”響應(yīng)(326-401 nm)

NS185窄帶濾光片:紫外線,中心波長為185 nm的干涉濾光片

QNDS1中性密度濾光片,10倍衰減;QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰減

W擴(kuò)撒器:用于ILT探測器的固體石英內(nèi)半球擴(kuò)散器,用于200-2100 nm的余弦響應(yīng)

TD擴(kuò)撒器:用于ILT探測器的圓頂式聚四氟乙烯擴(kuò)散器,用于250-700 nm的光譜范圍

AT衰減器帽:提供X10衰減,沒有螺紋,滑到探測器的末端

QT:11mm特氟龍石英窗口擴(kuò)散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser

美國International Light輻照度計(jì)