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美國(guó)ILT2400+XSD340B輻照計(jì)365nm波長(zhǎng)30W/cm2高功率曝光

國(guó)際光學(xué)International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測(cè)量系統(tǒng)用于326-401nm波段紫外線輻照度監(jiān)測(cè),校準(zhǔn)于365nm光阻劑作用光譜,精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度,可測(cè)量高達(dá)30W/cm2 高強(qiáng)度,用于PCB印刷電路板光及半導(dǎo)體業(yè)。

紫外輻照計(jì)品牌:美國(guó)International Light
美國(guó)International Light

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XSD340B說明書
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XSD340B圖片

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美國(guó)International Light XSD340B 紫外輻照計(jì)規(guī)格參數(shù)與圖片

Photoresist光阻劑廣泛用于PCB線路板行業(yè),通過其使用蝕刻化學(xué)品來布置電路連接或印刷電路板跡線,也被用于半導(dǎo)體工業(yè),它是用于形成單個(gè)半導(dǎo)體器件的微小電路的微圖案的光刻生產(chǎn)中的關(guān)鍵步驟。Photoresist光刻膠工藝過程控制光線輻照強(qiáng)度和曝光時(shí)間至關(guān)重要,它可以避免在加工和生產(chǎn)過程中光刻膠的浪費(fèi)性下曝光或曝光過度。為了保持這些設(shè)置,需要具有盡可能接近光阻劑作用光譜的測(cè)光表來精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度。

 

美國(guó)International Light國(guó)際光學(xué)公司致力于提供各種光刻膠專用儀器來實(shí)現(xiàn)曝光輻射強(qiáng)度測(cè)量。ILT2400輻照計(jì)以手持價(jià)格提供研究級(jí)質(zhì)量,采用可分離探頭設(shè)計(jì),具有8個(gè)量級(jí)的動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍,測(cè)量速度可達(dá)100μs,內(nèi)置可充電電池持續(xù)長(zhǎng)達(dá)8小時(shí),4.3寸觸摸屏顯示,可橫向和縱向查看讀數(shù)或圖形曲線。XSD340B探頭響應(yīng)波段326-401 nm,校準(zhǔn)于365nm波長(zhǎng),可測(cè)量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源輻照強(qiáng)度。ILT測(cè)光表和探測(cè)器均帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報(bào)告。

 

ILT XSD系列光刻膠輻照度探頭

ILT2400+XSD140A:量程4e-8 to 0.7 W/cm2,響應(yīng)波段320-475 nm,校準(zhǔn)于405nm波長(zhǎng)

ILT2400+XSD340A:量程8e-7 to 10 W/cm2,響應(yīng)波段320-475 nm,校準(zhǔn)于405nm波長(zhǎng)

ILT2400+XSD140B:量程7e-8 to 1 W/cm2,光譜范圍326-401 nm,中心波長(zhǎng)365nm

ILT2400+XSD340B:量程3e-6 to 30W/cm2 高強(qiáng)度,測(cè)量光譜326-401 nm,校準(zhǔn)于365nm

產(chǎn)品規(guī)格介紹文檔http://oznappies.com/download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf

ILT2400中文版簡(jiǎn)易操作說明書http://oznappies.com/download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf

分析儀軟件介紹文檔http://oznappies.com/download/201805/ILT_DataLight-Trend-Manual.pdf

 

美國(guó)International Light Photoresist光阻劑曝光輻照度測(cè)光表探頭選型

輻照計(jì)/探頭組合 響應(yīng)波長(zhǎng)頻譜 測(cè)量范圍 類型及應(yīng)用
ILT5000, SED033/A/W 320-475 nm 2e-9 ~ 2 W/cm² 臺(tái)式,Photoresist光刻膠/光阻材料,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, SED033/A/W 320-475 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,Photoresist光刻膠/光阻劑,同上
ILT1000/A/W 320-475 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT1700, SED033/A/W 320-475 nm 7e-9 ~ 4 W/cm² 臺(tái)式,Photoresist光刻/光阻劑,同上
ILT2400, XSD140A 320-475 nm 4e-8 ~ 0.7 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, XSD340A 320-475 nm 8e-7 ~ 10 W/cm² 同上,大功率高強(qiáng)度輻照探頭
ILT5000, SED033/B/W 326-401 nm 3e-10 ~ 0.2 W/cm² 臺(tái)式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, SED033/B/W 326-401 nm 2e-8 ~ 0.2 W/cm² 手持式,同上
ILT1700, SED033/B/W 326-401 nm 5e-9 ~ 0.5 W/cm² 臺(tái)式,同上
ILT1000/B/W 326-401 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,同上
ILT2400, XSD140B 326-401 nm 7e-8 ~ 1 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻劑,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, XSD340B 326-401 nm 2e-6 ~ 30 W/cm² 手持式,Photoresist光刻膠/光阻劑,高強(qiáng)度測(cè)量
ILT2400, SSD001 260-400 nm 6e-6 ~ 0.9 W/cm² 手持式,超薄傳感器,
PCB板曝光系統(tǒng),UVA光源,UV-Vis光源

 

另有UV固化測(cè)量系統(tǒng)ILT800傳送帶式紫外線固化設(shè)備曝光量測(cè)量,范圍5e-3 ~ 40 W/cm2;LT2400+XSD340AT7 320-475 nm,校準(zhǔn)于405nm中心波長(zhǎng),可測(cè)輻照強(qiáng)度范圍高達(dá)60 W/cm²。ILT紫外殺菌測(cè)光系統(tǒng)ILT2400+SED254/QT,手持式,低可見度環(huán)境,高功率紫外線強(qiáng)度應(yīng)用;ILT2400+SED185/NS185校準(zhǔn)于185nm,臭氧/殺菌、光解廢氣、水處理行業(yè)。

美國(guó)International Light輻照度計(jì)