發(fā)布時(shí)間：2014年12月28日

[停產(chǎn)]是德安捷倫4263b數(shù)字電橋測試儀agilent 4263b LCR分析儀

Agilent安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋?qū)ｉT用于對生產(chǎn)線元件進(jìn)行評估，以及對臺(tái)式應(yīng)用進(jìn)行基本阻抗測試，還可以利用選件方便地進(jìn)行變壓器測量。安捷倫4263B LCR測試儀已停產(chǎn)，尚提供支持。

LCR測試儀/電橋表品牌：是德科技安捷倫Agilent

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agilent-4263b說明書

agilent-4263b圖片

是德科技安捷倫Agilent agilent-4263b LCR測試儀/電橋表規(guī)格參數(shù)與圖片

是德科技安捷倫LCR測試儀Agilent4263B電橋主要特性

測量參數(shù)：Z，Y，U，R，X，G，B，L，C，D，Q

ESR-4263B-001選件：增加DCR（直流電阻），匝數(shù)比（N），互感（M）

Agilent 4263B基本測量精度：0.1%

5種測試頻率：100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz

交流測試信號(hào)電平：20 mV至1 Vrms，以5mVrms步進(jìn)，用以評估電壓特性

內(nèi)部直流偏置：電平1.5V和2V，外部直流偏置：0V至2.5V

測試信號(hào)電平監(jiān)測功能：可監(jiān)測電壓和電流，當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路起保護(hù)作用

Agilent 4263B lcr表測量速度：最快25 ms，提高測試效率

接觸檢查功能：可檢測測試夾具與器件之間的接觸故障，接觸檢查的附加時(shí)間為5ms

Keysight 4263B LCR表高效的電解電容器測試，可通過GPIB接口控制儀器

agilent 4263b 說明書下載地址

http://oznappies.com/download/201412/20141228125956_921.pdf

是德安捷倫LCR數(shù)字電橋HP4263B | HP 4263B | Agilent 4263B技術(shù)規(guī)格

測量參數(shù)	\|Z\|,\|Y\|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
選件001	增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測量
測量電路形式	串聯(lián)和并聯(lián)
數(shù)學(xué)功能	偏差和百分偏差
測試電纜長度	0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
測試頻率	100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
選件002	增加20kHz測試頻率
頻率精度	±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
輸出阻抗	100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
交流測試信號(hào)電平	20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
精度	±（10%+10mV)
電平	1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
外部直流偏置	0~+2.5V
測量范圍	參數(shù)	測量范圍
	\|Z\|,R,X	1mΩ-100MΩ
	\|Y\|,G,B	10nS-1000S
	C	1pF-1F
	L	10nH-100kH
	D	0.0001-9.9999
	Q	0.1-9999.9
	θ	-180°~+180°
	DCR	1mΩ-100MΩ
	N	0.9-200（待定）
	L,M	1μH-100H（待定）
	Δ%	-999.99%-+999.99%
	測量精度：	±0.1%(基本精度）（適用于\|Z\|,R,X,\|Y\|,G,B,CL)
	測量時(shí)間
	模式	時(shí)間（典型值）
	短	25ms
	中等	65ms
	長	500ms
測試信號(hào)電平監(jiān)視器：	電壓和電流
前端保護(hù)：	當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。最大電容器電壓為；在 Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。
顯示數(shù)字：	安捷倫4263b數(shù)字電橋3，4或5位（可選擇）
開路/短路誤差為0：	消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差
負(fù)載：	利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測量的精度
比較功能：	對每個(gè)一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果
接觸檢查功能：	可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms
存儲(chǔ)/調(diào)用：	可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置
連續(xù)存儲(chǔ)功能：	若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來（在23°±5℃下≦72小時(shí)）
GPIB接口	安捷倫4263b所有控制設(shè)置，被測值和比較器信息
處理器接口	所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā)