• 紅外測溫槍★紅外測溫儀 測溫槍
  • 安捷倫數(shù)據(jù)采集器★安捷倫 數(shù)據(jù)采集器
  • 福祿克萬用表型號★福祿克 萬用表
  • 紅外熱成像儀價格★熱像儀
  • 泰克示波器探頭★泰克 探頭

[停產(chǎn)]是德安捷倫4263b數(shù)字電橋測試儀agilent 4263b LCR分析儀

Agilent安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋?qū)iT用于對生產(chǎn)線元件進行評估,以及對臺式應(yīng)用進行基本阻抗測試,還可以利用選件方便地進行變壓器測量。安捷倫4263B LCR測試儀已停產(chǎn),尚提供支持。

LCR測試儀/電橋表品牌:是德科技 安捷倫Agilent
是德科技 安捷倫Agilent

請撥打電話,或在線聯(lián)系我們,告訴我們你要什么
您將會得到省事省心的產(chǎn)品選型、價格報價服務(wù)!
agilent-4263b說明書
  • 是德科技 安捷倫AgilentLCR測試儀/電橋表agilent-4263b

agilent-4263b圖片

  • agilent-4263b

是德科技 安捷倫Agilent agilent-4263b LCR測試儀/電橋表規(guī)格參數(shù)與圖片

是德科技安捷倫LCR測試儀Agilent4263B電橋主要特性

測量參數(shù):Z,Y,U,R,X,G,B,L,C,D,Q

ESR-4263B-001選件:增加DCR(直流電阻),匝數(shù)比(N),互感(M)

Agilent 4263B基本測量精度:0.1%

5種測試頻率:100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz

交流測試信號電平:20 mV至1 Vrms,以5mVrms步進,用以評估電壓特性

內(nèi)部直流偏置:電平1.5V和2V,外部直流偏置:0V至2.5V

測試信號電平監(jiān)測功能:可監(jiān)測電壓和電流,當充電電容器連接到輸入端時內(nèi)部電路起保護作用

Agilent 4263B lcr表測量速度:最快25 ms,提高測試效率

接觸檢查功能:可檢測測試夾具與器件之間的接觸故障,接觸檢查的附加時間為5ms

Keysight 4263B LCR表高效的電解電容器測試,可通過GPIB接口控制儀器

 

agilent 4263b 說明書下載地址 

http://oznappies.com/download/201412/20141228125956_921.pdf

 

是德安捷倫LCR數(shù)字電橋HP4263B | HP 4263B | Agilent 4263B技術(shù)規(guī)格

測量參數(shù) |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
選件001 增加DCR(直流電阻),N(匝數(shù)比)和M(互感)測量
測量電路形式 串聯(lián)和并聯(lián)
數(shù)學(xué)功能 偏差和百分偏差
測試電纜長度 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
測試頻率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
選件002 增加20kHz測試頻率
頻率精度 ±0.01%(頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
輸出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程)
交流測試信號電平 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
精度 ±(10%+10mV)
電平 1.5和2V;精度:±(5%+2mV)
外部直流偏置 0~+2.5V
測量范圍 參數(shù) 測量范圍
|Z|,R,X 1mΩ-100MΩ
|Y|,G,B 10nS-1000S
C 1pF-1F
L 10nH-100kH
D 0.0001-9.9999
Q 0.1-9999.9
θ -180°~+180°
DCR 1mΩ-100MΩ
N 0.9-200(待定)
L,M 1μH-100H(待定)
Δ% -999.99%-+999.99%
測量精度: ±0.1%(基本精度)(適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
測量時間  
模式 時間(典型值)
25ms
中等 65ms
500ms
測試信號電平監(jiān)視器: 電壓和電流
前端保護: 當充電電容器連接到輸入端時內(nèi)部電路便函起保護作用。最大電容器電壓為;在
Vmax≤250V時,Vmax=√(8/C)(典型值);在Vmax≤1000V時,Vmax=√(2/C)(典型值),C單位為F。
顯示數(shù)字: 安捷倫4263b數(shù)字電橋3,4或5位(可選擇)
開路/短路誤差為0: 消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差
負載: 利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度
比較功能: 對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低(HEGH/IN/LOW)比較結(jié)果
接觸檢查功能: 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms
存儲/調(diào)用: 可以存儲和從內(nèi)部非易失存儲器調(diào)用10個儀器設(shè)置
連續(xù)存儲功能: 若儀器補關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置(直流偏置接通/切斷除外)將自動被存儲起來(在23°±5℃下≦72小時)
GPIB接口 安捷倫4263b所有控制設(shè)置,被測值和比較器信息
處理器接口 所有輸出信號均為負邏輯,光隔離的開路集電極。輸出信號包括HIGH/IN/LOW,不接觸,序號,測量結(jié)束和報警。輸入信號包括鍵鎖定和外觸發(fā)
是德科技 安捷倫AgilentLCR測試儀/電橋表